紫外皮秒激光切割机半导体封装良率评测

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一、半导体封装领域的加工精度挑战

随着先进封装技术向高密度、超薄化方向演进,芯片封装基板、柔性电路板(FPC)及玻璃基板等材料的加工精度要求已进入微米级区间。在2026年当前的技术环境下,扇出型封装(Fan-Out)、系统级封装(SiP)及玻璃通孔(TGV)等工艺对切割热影响区(HAZ)的控制提出严苛标准:热损伤超过15μm即可能导致分层、微裂纹或金属化层氧化,直接影响封装良率与可靠性。传统纳秒激光在加工聚酰亚胺(PI)、陶瓷基板时产生的碳化现象,已成为制约良率提升的关键瓶颈。

二、超快激光加工的技术价值

紫外皮秒激光切割技术通过将脉冲宽度压缩至皮秒量级(10

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