极测精密环控系统：为半导体量测设备打造精密稳定环境
在半导体制造领域,每一纳米的变化都可能直接影响芯片的性能与良率。作为高精度检测的关键环节,半导体量测设备(如电子显微镜、膜厚测量仪、OCD量测等)自身对运行环境的要求也极为苛刻。环境的细微波动,都会引入测量误差。
除整体环境外,半导体量测设备通常配备高精度光学成像器件(广义上的“照相机”),其中光源,电子控制单元,运动部件等都有可能产生局部发热源,最终影响环境的稳定性,以及晶圆表面温度稳定性。
极测(南京)技术有限公司深刻理解这一需求,凭借在微环境控制领域的深厚技术积累,专为高端半导体量测设备设计精密环控系统,做好设备配套。系统由设备主柜体(设备维护结构模块)、洁净过滤系统、局部气浴、控制系统、气流循环系统、制冷(热)系统等组成。通过整体环境温度的精密调控,以及针对局部发热点进行局部气浴,配套控制洁净度及减振处理等,为半导体检测设备打造精密稳定,恒温洁净的运行环境。
核心技术优势:
打造高“温度精度”,避免热致误差
温度是影响测量精度的首要因素。极测精密环控柜采用自主研发的高精度制冷/加热控制系统,能够实现高温度精度和稳定性。最高将内部环境温度波动控制在极小的范围内(±2mK),确保每一次测量数据的重复性与可靠性。
超净空间,避免微粒污染除了温控精度,洁净度同样至关重要。悬浮微粒一旦沉积在晶圆或设备光学镜头上,将造成缺陷或信号干扰。极测环控柜内部可维持最高ISO 1级的超高洁净环境,有效隔绝灰尘、颗粒物等污染物,为半导体量测设备提供干净的环境,保护昂贵的光学组件和敏感样品。
智能集成,一站式环境配套我们的解决方案集成了精密温控、洁净控制、湿度控制(最高±0.3%RH)、及抗微振功能的综合环境配套系统。支持根据您设备的特定型号和工艺要求进行非标定制,匹配不同半导体量测设备的精密需求。设备智能管理系统提供7x24小时实时数据监控与记录,所有环境参数一目了然,数据可追溯,为质量分析和故障排查提供坚实依据。
